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- 公司名稱(chēng) 西安測(cè)維光電技術(shù)有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 西安市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/6/13 14:51:22
- 訪問(wèn)次數(shù) 74
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9J光切法顯微鏡一、用途本儀器是以光切法測(cè)量零件加工表面的微觀不平度
9J光切法顯微鏡
一、 用途
本儀器是以光切法測(cè)量零件加工表面的微觀不平度。其能判別國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1031-1995所規(guī)定測(cè)量范圍1.0~80微米即原標(biāo)準(zhǔn)▽3~▽9級(jí)表面光潔度。對(duì)于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來(lái)進(jìn)行測(cè)量。
光切法特點(diǎn)是在不破壞表面的狀況下進(jìn)行的。是一種間接測(cè)量方法。即要經(jīng)過(guò)計(jì)算后才能確定紋痕的不平度。
± 以光切法測(cè)量零件加工表面的微觀不平度,能判別國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(gb1031-68)所規(guī)定▽3-▽9級(jí)表面光潔度(表面粗糙度12.5 –0.2 )。
± 對(duì)于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來(lái)進(jìn)行測(cè)量。
± 光切法特點(diǎn)是在不破壞表面的狀況下進(jìn)行的,是一種間接測(cè)量方法,即要經(jīng)過(guò)計(jì)算后才能確定紋痕的不平度。
二、 規(guī)格
測(cè)量范圍不平度平均高度值 (μm) | 表面光潔度
級(jí) 別 | 所需物鏡 | 總放大倍數(shù) | 物鏡組件 工作距離 (mm) | 視 場(chǎng) (mm) |
>0.8~1.6 >1.6~6.3 >6.3~20 >20~80 | 9 8~7 6~5 4~3 | 60×N.A.0.55 30×N.A.0.40 14×N.A.0.20 7×N.A.0.12 | 510× 260× 120× 60× | 0.04 0.2 2.5 9.5 | 0.3 0.6 1.3 2.5 |
測(cè)量不平度范圍: 0.8~80 μm
不平寬度: 用測(cè)微目鏡 0.7μm~2.5 mm, 用坐標(biāo)工作臺(tái) 0.01~13 mm
儀器重量 : 約23 ㎏
外形尺寸: 約180×290×470 mm
三、儀器的成套性
1.儀器本體 1臺(tái)
2.測(cè)微目鏡 1只
3.坐標(biāo)工作臺(tái) 1件
4.V 型塊 1件
5.標(biāo)準(zhǔn)刻尺(連盒) 1件
6.7×物鏡 1組
7.14×物鏡 1組
8.30×物鏡 1組
9.60×物鏡 1組
10.可調(diào)變壓器220/4~6/5VA 1只
11.LED光源 1只
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