APD-1120x-B01 APD-TIA TO老化測試系統是獨立提供”每顆”待測組件電流及電壓源
APD-1120x-B01 APD-TIA TO老化測試系統是獨立提供”每顆”待測組件電流及電壓源。
具有以下優點:
1. 系統均溫度性穩定,機臺的均溫性< +/-2℃。
2. 實時偵測并記錄每顆待測組件是否有”確實”進行老化測試流程, 以利后續追蹤。
3. 與自動盤測機之測試板兼容共享。
系統輸出入電源 :
1. AC 220/1ψ/30A/50Hz 電源輸入(烘箱)
2. AC 220/1ψ/20A/50Hz 電源輸入(控制器)
3. AC 220/1ψ/10A/50Hz 電源輸入(PC)
4. 3.3V 電源輸出
5. 75V 電源輸出
系統功能 :
1. 每路TO-CAN 單備 Vcc_TIA 電壓源供電,電壓源輸出外接TIA
2. 每路TO-CAN 單備 I_APD 電流源供電,電流源輸出外接APD 二極管
3. 老化時,設備可對每一通道APD 器件,獨立提供Vcc_TIA 所需3.3V+/-5%的恒定電壓,Vcc 供電
電流可限流<100mA。若該器件Vcc_TIA 因TIA 故障或其他原因引起引腳短路時,不影響到其
它器件Vcc_TIA 正常供電;且Vcc_TIA 加電必須單獨先于I_apd 加電。
4. 可以程控設置APD 的電流范圍50uA~200uA+/-5%,電流隨烘箱溫度從RT 到設置溫度變化
時,Iapd 電流變化小于5%。
5. 實時顯示要求:Vapd: 0.01V;計算機采樣時要求具備間隔固定時間測量并記錄Vapd
功能。
6. I_APD 電流輸出有防過電流設置,開通瞬間電流過沖小于 <10%設定值。
7. 有延時緩沖加電功能,延時緩沖加電延時時間為10-15 秒(在該時間內,反偏電流由零逐漸增加
到設定值)。關閉設備時具備先關閉I_apd,后關閉Vapd 功能。
8. 計算機控制及測試記錄功能要求:
8.1 具備設置I_apd 功能
8.2 具備定期記錄所有信道V_apd 功能,間隔時間可設定。
8.3 具備設置批號功能。
8.4 具備設置老化時間功能,時間完成后自動按照順序關閉Vcc/I_apd
9. 計算機采樣時, 具備間隔固定時間讀取并記錄Icc, 可確保產品 Vcc 是有供電接觸正
常的
系統外觀 :
1. 烘箱 (深x 寬x 高=135x175x220cm)
2. PC x 1
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