JIMS測試系統作為JT測試系統的特殊版本，適用于測試光學口徑超過1000mm的光電系統
JIMS測試系統作為JT測試系統的特殊版本，適用于測試光學口徑超過1000mm的光電系統。是一套對于水平方向布局的光電系統測試理想的解決方案。由于CEB模塊產生的內部對準誤差較小， JIMS測試系統的測試精度（0.2mrad）會比JT測試系統（低于0.1mrad）略差。JIMS可以看作JT400系統帶有CEB平行光管折鏡的附加模塊，可以在某方向（通常是水平方向）將平行光管孔徑增加到1000毫米。對于成像/激光傳感器位于大型水平平臺上的超大型地球觀測監視系統，JIMS是一個理想且經濟的軸對準測試解決方案。
表1 基于距離的JIMS系統型號
產品型號 | 被測光電系統兩傳感器中心距離 |
JIMS600 | 600mm |
JIMS700 | 700mm |
JIMS800 | 800mm |
JIMS900 | 900mm |
JIMS1000 | 1000mm |
表2 JIMS測試系統版本
編碼 | 計算機化控制/軸對準/測試功能 | 模塊 |
X1 | 非計算機化測試系統 | CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶標，IR-USAF1951靶標，多圖形靶標，CEB擴展器 |
X2 | 非計算機化測試系統 | CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶標，IR-USAF1951靶標，多圖形靶標，一組MON卡，一組TEG卡，一組TEP卡，一組OA衰減器，AH1適配器，CEB擴展器 |
X3 | X2+多脈沖激光測距機與激光指示器可以被校準，增加了ABS卡，LIC卡以及兩個ILU卡。 | CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶標，IR-USAF1951靶標，多圖形靶標，一組MON卡，一組TEG卡，一組TEP卡，一組OA衰減器，AH1適配器，ABS卡，LIC卡以及兩套ILU卡，CEB擴展器 |
Y1 | 計算機化測試系統 | CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶標，IR-USAF1951靶標，多圖形靶標，一組MON卡，一組TEG卡，一組TEP卡，一組OA衰減器，AH1適配器，圖像采集卡，計算機，BOR軟件，CEB擴展器 |
Y2 | Y1+多脈沖激光測距機與激光指示器軸對準 | CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶標，IR-USAF1951靶標，多圖形靶標，一組MON卡，一組TEG卡，一組TEP卡，一組OA衰減器，AH1適配器，圖像采集卡，計算機，BOR軟件，ABS卡，LIC卡以及兩套ILU卡，CEB擴展器 |
Y3 | Y2+ JT系統的光軸可以垂直于被測系統所在的平臺參考機械平面 | Y2+更新了自動準直CJT平行光管、及BRL相機 |
Y4 | Y2+精確測量被測激光測距機的發散角 | CJT平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶標，IR-USAF1951靶標，多圖形靶標，一組MON卡，一組TEG卡，一組TEP卡，一組OA衰減器，AH1適配器，圖像采集卡，計算機，BOR軟件，ABS卡，LIC卡以及兩套ILU卡，BRL相機，SR10相機，CEB擴展器 |
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