遠方VNF-200 VCSEL近場特性分析儀專為VCSEL的表面近場特性分析設計，兼具測量速度快、光學分辨率高、測量精度高的特征。儀器采用顯微光學系統與成像系統結合的方式，并依據VCSEL的特性優化設計，實現VCSEL的高倍率顯微成像輻射分析。通過單次測量得到VCSEL表面二維陣列排布、壞點檢測及輻亮度數據，同時得到單點尺寸。配備專用分析軟件，可輸出符合標準的測試報告。適用于產線及實驗室中VCSEL表面特性的快速、精確分析。