Thermo Scientific ELEMENT GD結合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內的幾乎所有元素，是直接、快速分析高純樣品雜志含量和鍍層材料元素組成的**工具。

了解如何借助 Thermo Scientific™ ELEMENT GD™ PLUS GD-MS 為固體中高級高純度材料的直接分析定義新的標準。通過**限度減少校準和樣品制備操作，可提高樣品處理量并達到**檢測限，從而使 GD-MS 適合整塊金屬分析和深度剖析應用。

陶瓷和其他幾種非導電粉末使用二次電極法進行分析，從而提供相同水平的靈敏度和數據質量。這使得 GD-MS 成為痕量金屬分析的可靠標準方法。

性能特點

存在于固體樣品中的幾乎所有元素都可進行常規檢測和定量：許多元素的含量低于十億分率 (ppb) 水平。

µs 脈沖式高流速輝光放電池

采用脈沖放電模式的高靈敏度離子源
**可調的濺射速率適用于快速進行整體分析和高級深度剖析應用
使用二級電極進行氧化鋁粉末分析
雙聚焦質譜儀

高離子傳輸率和低背景使得信噪比可達亞 ppb 級檢測限
高質量分辨率可提供**水平的選擇性和準確度：是的分析結果的先決條件
十二數量級的自動檢測系統

在一次分析中測定基體和超痕量元素，全自動檢測器涵蓋 12 數量級動態線性范圍
直接定量測定基體元素 IBR（離子束比率）
高效率和簡單易用的軟件包

所有參數均由計算機控制
全自動調諧、分析和數據評估
自動 LIMS 連接性
遠程控制和診斷
Windows 7
樣品周轉時間通常少于 10 分鐘

能夠在一次分析中測定基體元素到超痕量元素
深度剖析涵蓋數百微米到一納米的層厚度
*小化基體效應，便于進行直接定量

應用領域

航空航天：鎳基高溫合金、復合材料、涂層和擴散層的深度剖析
微電子學：銅、鋁粉、濺射靶材
可再生能源：硅塊、晶片、太陽能電池
醫療/制藥/食品：不銹鋼、合金