掃描電鏡原位拉伸臺是一種動態觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機制的手段,在材料科學前沿研究中發揮了重要作用。

      GATAN公司MICROTEST系列樣品臺可以為很多材料做拉伸測試，如金屬材料（研究韌斷過程、應力誘發相變及塑性變形等），高分子材料等。通過掃描電鏡對微觀結構的形態變化進行原位成像，從而深入理解形態變化的原因并對變化時刻進行成像。結合對動態實驗的信息可以克服對傳統的應力/應變數據解釋的不確定因素。針對拉伸、擠壓和彎曲測試，我們提供很多款裝置，負載范圍從2N到5000N。

      MICROTEST原位拉伸臺針對SEM而特殊設計，有四個版本可以使用，200N、300N、2KN、5KN

      MICROTEST系列拉伸臺技術特點：

      較大載荷范圍：200N, 300N, 2000N 和5000N

      可更換的稱量傳感器量程小到 2N

      應變速率：5 μm/min 到 6 mm/min

     可選3- 點和 4-點水平彎曲附件

     EBSD 樣品專用附件

     加熱和水冷臺上配備的定制鉗口

     簡單的軟件用戶界面提供了實時定量數據曲線，結合靈活的閥值可以進行復雜的實驗，包括循環負載。

     支持同步圖像和數據采集。可以通過影響對樣品變化過程進行細節分析。

1、MICROTEST 200系列拉伸臺

        動態測試臺，在SEM內外都能操作。大200 N負載，可以進行拉伸、擠壓操作，可配水平方向上3或4點彎曲。MICROTEST 200B可以實現垂直三點彎曲。

2、MICROTEST 300系列拉伸臺

        動態測試臺，在SEM內外都能操作。大300 N負載，可以進行拉伸、擠壓操作，可配水平方向上3或4點彎曲。MICROTEST 300B可以實現垂直三點彎曲。

3、MTEST2000系列拉伸臺

        MTEST2000和MTEST2000E動態測試樣品臺模塊，大載荷為2000N,在掃描電鏡 (SEM)里面和外面都可以使用。MTEST2000可以工作在拉伸或壓縮模式，并可選配水平彎曲夾具。MTEST2000B設計用于垂直的3-/4-點彎曲。MTEST2000E拉伸臺設計用于配置EBSD的掃描電鏡研究（MICROTEST 2000ES室溫版本，MICROTEST 2000EW水冷版本，是加熱夾具的基本配置，同時可以選配EH 2000升級為可實現加熱狀態下拉伸測試）。

4、MTEST5000 系列拉伸臺

       MTEST5000是一個可工作于拉伸或壓縮模式的高載荷(5000N)動態測試樣品臺模塊，可以進行拉伸、擠壓操作，可配水平方向上3或4點彎曲。（MICROTEST 5000S為室溫版本，MICROTEST 5000W為水冷版本，是加熱夾具的基本配置，同時可以選配H5000升級為同時進行加熱或冷卻狀態下的拉伸測試）