IG-1000 單納米粒徑測(cè)定裝置用于測(cè)定納米粒子，獲得了2009Pittcon大獎(jiǎng)。與以往粒度測(cè)定儀器原理不同，IG方法（Induced Grating method）是島津公司開發(fā)的*的納米粒徑測(cè)定技術(shù)。

IG-1000 單納米粒徑測(cè)定裝置
 

　　儀器簡(jiǎn)介：                                                                                                      
 

　　IG-1000 單納米粒徑測(cè)定裝置用于測(cè)定納米粒子，獲得了2009Pittcon大獎(jiǎng)。與以往粒度測(cè)定儀器原理不同，IG方法(Induced Grating method)是島津公司開發(fā)的*的納米粒徑測(cè)定技術(shù)。IG-1000采用介電電泳原理，介電電泳ON時(shí),形成部分的高(低)粒子濃度；介電電泳OFF時(shí), 粒子擴(kuò)散恢復(fù)為原始狀態(tài)；由介電電泳力使粒子構(gòu)成衍射光柵，擴(kuò)散后的濃度降低導(dǎo)致衍射光強(qiáng)度降低，從衍射光強(qiáng)度的時(shí)間變化可以得到粒子的擴(kuò)散系數(shù)，進(jìn)而得到粒子的粒徑。
 

　　光源：半導(dǎo)體激光(波長(zhǎng)785nm)
 

　　測(cè)定原理：誘導(dǎo)衍射光柵法                                     
                                                                           

　　測(cè)量范圍：0.5～200nm                                            
                                                                        

　　測(cè)定體積：250~300uL
                                                             

　　主要特點(diǎn)：
                                                                                  

　　單納米粒子的高靈敏度分析
                                                       

　　*的抗污染能力                                                         
                                                                                         

　　良好的重現(xiàn)性