leetes CCD 全譜光電直讀光譜儀WL15A 采用CCD光學系統與全新數字雙脈沖激發光源，適用于130～800nm波長范圍，具備高性能CCD陣列檢測器及底部氬氣沖洗電極。該設備支持真空型光學系統，配備工業USB數據采集，并可在多種環境下進行精確測量，適用于鑄造、廢品回收、機械加工等行業以及航空航天領域的材料分析和質量控制。

CCD全譜光電直讀光譜儀 WL15A 產品說明

設備名稱、型號

leetes CCD全譜光電直讀光譜儀 WL15A

主要技術指標

檢測器：CCD

光學系統：全譜真空型光學系統

波長范圍：130～800nm可選

探測器：高性能CCD陣列

電極：底部氬氣沖洗電極

工作溫度：(10～35)℃

存儲溫度：(0～45)℃

工作濕度：20％～80％

氬氣純度要求：99.999%

氬氣進口壓力：0.5MPa

氬氣流量：激發流量約（3-6）L/min，維持流量約（0-0.5）L/min

激發功率：500VA

光源類型：全新數字雙脈沖激發光源，變頻（1-1000Hz）激發技術

真空系統：軟件測試控制

工作電源：220V AC，50/60Hz，保護性接地的單相電源

數據采集：工業USB數據采集（100KHz/s），可完成單火花脈沖數據采集，用于酸溶和酸不溶的一些特殊材料。

leetes CCD全譜光電直讀光譜儀 WL15A 軟件系統：適用windows操作系統，全中文操作界面。

CCD全譜光電直讀光譜儀 WL15A 應用范圍

鑄造行業:主要用作鑄造過程中的（爐前爐后）金屬和合金材料中的元素分析和組分檢測,便于質量控制和出廠品質;

廢品回收行業:主要用作檢測回收物品中某些元素的含量多少，輔助確定廢料的進出價格;

零件加工行業:主要用作進廠原材料品質的鑒定和加工成品的成分變化檢測;

高校、理化實驗室:主要用作進廠原材料品質的鑒定和加工成品的成分變化檢測;

金屬加工和制造業：用于金屬原材料、半成品和成品的質量控制，例如鋼鐵、銅、鋁、鋅等金屬制品的檢測和分析。

航空航天工業：用于飛機發動機、火箭發動機、飛行器部件等材料的分析和檢測，以確保其性能和質量。

leetes CCD全譜光電直讀光譜儀WL15A采用CCD光學系統與全新數字雙脈沖激發光源，適用于130～800nm波長范圍，具備高性能CCD陣列檢測器及底部氬氣沖洗電極。該設備支持真空型光學系統，配備工業USB數據采集，并可在多種環境下進行精確測量，適用于鑄造、廢品回收、機械加工等行業以及航空航天領域的材料分析和質量控制。