ICPMS電感耦合等離子體發射質譜儀
我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP）、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、液相色譜儀（LC）、能譜儀（EDS）、頻紅外碳硫分析儀（CS Analyzer）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規定的有害物質：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質采礦（各種礦石品位檢測設備）、塑料（無鹵測試等）、石油化工、嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、、商品檢驗、質量檢驗、人體微量元素檢驗等等。總之銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測。
對于地質、采礦、金屬、土壤、環境水質、考古、木材、電子、醫藥、環保、啤酒、電力、石油化工、玩具、大型工程、有害元素、鍋爐制造、電鍍鍍層、再生資源金屬、玻璃等各種元素分析.目前有兩種分析方法，物理分析和濕化學分析.物理分析一般是用X熒光光譜儀測試，使用簡單方便，濕化學分析一般是指實驗室使用的高精度分析設備，精度高，測試穩定，結果可信度高。以下介紹使用廣泛的ICP-MS儀器。
實驗室使用的儀器（ICP-MS)：
儀器介紹：
電感耦合等離子體質譜儀 (簡稱ICP-MS），是20世紀80年代發展起來的一種新的微量（10-6）、痕量（10-9）和超痕量（10-12）元素分析技術。ICP-MS可測定元素周期表中大部分元素，且具有極低的檢出限、極寬的動態線性范圍、譜線簡單、干擾少、精密度高、分析速度快等性能優勢。
銷售的ICP-MS系列儀器各項性能均優于國家規范，*不同行業用戶應用需求，性價比高；目前該產品主要應用于環境、食品、半導體、醫藥及生理分析、核工業領域等。
1CP-MS性能特點
穩健的固態電源保證儀器可運行多種模式（如常規模式、冷等離子體模式），并且在同一方法中允許運行多種模式，節約大量分析時間及方便研究。
*的等離子體屏蔽技術，極大提高儀器的靈敏度，改善低質量元素的檢出限。保證冷等離子體模式等應用，無需使用碰撞/反應氣，即可使K、Na、Ca、Mg、Fe等易電離元素檢出限低至ng.L-1。
高穩定性和精密度的帶撞擊球玻璃霧化室，霧化室標配半導體制冷，對霧化室制冷控溫范圍為-20℃-20℃，制冷迅速可在三分鐘內由室溫降至2℃，以適應不同基體的控溫要求；
接口室由采樣錐、截取錐兩部分組成。標準配置包含采樣錐（錐孔1.1mm），和具有優秀耐鹽性能的截取錐（錐孔0.75mm）；另可根據用戶實際需求選配高靈敏度截取錐；
*的活動接口門結構，無需泄真空即可裝卸采樣錐和截取錐，維護方便；
配置高效率六極桿離子導向系統，在全質量范圍內獲得離子傳輸效率；由計算機控制全自動離子聚焦調諧過程。真空室內的透鏡采用非對稱安裝，方便拆裝定位；
離子透鏡包括提取透鏡和偏轉透鏡，采用二次離軸設計，避免中性粒子和電子進入質量分析器，降低背景；離子透鏡、六級桿和四級桿均為免拆洗維護設計，極大地減少維護工作量；
使用進口、超長的純鉬四級桿，為儀器提供的靈敏度及分辨率；
長壽命ETP雙模式檢測器，分成兩部分分列打拿極電子倍增器，由計算機控制自動進行數/模切換；
友好的人機交互界面，符合國人使用習慣的全中文軟件。提供自動控制儀器及其附件的能力，適應Windows 2000/XP/vista/win7(32位或64位)專業操作系統；
全自動分析功能（啟動關閉儀器，炬位調整，等離子體參數，離子透鏡參數，檢測器參數等）。
產品技術指標
儀器參數
1.1質量數量范圍：2~255 amu
1.2測量范圍：≥108
1.3靈敏度： Be≥2×106； In≥35×106； U≥30×106單位（cps/mg/L）
1.4檢出限： Be≤10；In ≤2；U≤2 單位（ng/L）
1.5分辨率：0.6~0.8 amu
1.6信噪比：≥50×106
1.7背景噪音：≤2 cps（220amu）
1.8質量軸穩定性：≤±0.05 amu/24 h
1.9穩定性RSD： 短期≤3%；長期≤4%
1.10氧化物離子： /≤3%
1.11雙價離子： /≤3%
1.12同位素比：（107Ag/109Ag）≤0.2%
1.13豐度靈敏度：≤1×10-6低質量端；≤5×10-7高質量端
工作環境要求
2.1 環境溫度要求：15℃-25℃
2.2 環境相對濕度：<70%（無結露）
2.3 工作電源：交流220±5V，頻率50Hz±0.5Hz
2.4 周圍不能有強電磁干擾。
ICPMS電感耦合等離子體發射質譜儀
