XJZ金相顯微鏡采用平場消色差光學系統和落射式柯拉照明系統，同時在落射照明系列中設 計防反結構，有效防止反射光干擾成像光線，從而使成像更清晰、視場襯度 更好，提供穩定可靠的操作機構,使成像更清晰,操作更簡便，廣泛應用于各 類半導體硅晶片檢測、材料科學研究、地質礦物分析及精密工程等學科領 域。顯微鏡鏡體采用全新的人機工程學設計，結構勻稱，實現鏡體擴展積木化，工作臺、光強與粗微調的低位操作。

XJZ金相顯微鏡；
光學系統：平場消色差光學系統；鏡體：采用全新的人機工程學設計，“C”型基座設計保證了高度的穩定性與剛性；物鏡：4X、10X、40XS 195金相平場消色差物鏡；目鏡：PL10X高眼點平場目鏡，線視場 18mm；鏡筒：鉸鏈式雙目觀察頭，鏡筒30°傾斜，鉸鏈式三目觀察頭，鏡筒30°傾斜，單目觀察筒，鏡筒45°傾斜；工作臺：移動機械平臺上，附設180X145mm；平板平臺調焦機構：粗微調同軸，帶粗調上限位和松緊調節裝置；照明系統：落射照明系統，90-240V寬電壓；光源采用Philips5761型6V/30W鹵素燈；選購件：攝像、攝影、偏光裝置；產地：中國