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返回產品中心>Multi X 系列全并行式相控陣超聲檢測系統 Multi X不同于其他相控陣系統，它具有的全并行硬件結構。強大的硬件可支持全部通道同時激發和接收，實現高靈敏度、高分辨率檢測。 Multi X同時可以驅動線性和矩陣探頭，可以進行**檢測并且不降低檢測速度。主要應用于高靈敏度材料檢測。
硬件特點：
Multi X 系列全并行式相控陣超聲檢測系統
★ 全并行結構可以驅動線性和矩陣相控陣探
頭,并且支持智能柔性探頭
★ 模塊化設計可以根據用戶需要進行擴展（以
8通道為基數進行擴展）
★ Multi X 32，并行32個通道 (32×32:脈沖
發射通道×接收通道)
★ Multi X 64，并行64個通道
★ Multi X 128，并行128個通道
★ Multi X 256，并行256個通道
★ 使用可編程處理器實現即時硬件處理
★ 快速掃描和信號重建 技術參數：
★ 電子聚焦，電子掃查，扇形掃查
★ 檢測模式：脈沖回波或者發射接收模式，動態深度聚
焦（DDF），動態激發孔徑
★ *大脈沖重復頻率：30KHz,根據聚焦法則可改變
★ 系統帶寬：0.8到20 MHz
★ 電壓可調節：30～200V，步進1V
★ 負方波脈沖，脈沖寬度可調整：30ns～1.2us，步進
2.5ns，下降時間<10ns（200V,50ns）
★ *大采樣率：100MHz（從6.6到100MHz可選擇) ，10bit
★ *大數據流量> 30 MB/s
★ 聚焦法則存儲在32MB快速硬件內存中，在掃查過程
中可以快速應用聚焦法則
★ 每個通道的增益范圍：0～80dB
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