我們的鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術，該技術已被普遍認可并且得到廣泛應用,可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作，快速和無損的分析。可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的14Si到92U。
MAXXI 6針對較薄而復雜的樣品，具有的解決方案。MAXXI 6配備多準直器系統及超大樣品艙，是功能性與檢測精度兼備的理想工具。
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