按鍵壽命試驗機YTX-KLT-D

按鍵壽命試驗機

YTX-KLT-D，源泰鑫儀器

本機適用于按鍵開關(guān)、電腦鍵盤、導電橡膠按鍵、金屬彈片按鍵（俗稱鍋仔）或同類型按鍵的打擊壽命老化試驗，采用的編程器控制按鍵壽命試驗全過程，可同時進行壽命測試和導通測試，按鍵損壞自動停機，被測物體出現(xiàn)始終“導通”或始終“不導通”時，機器會在8秒鐘內(nèi)停止運轉(zhuǎn)

技術(shù)參數(shù)： 

1、 測試產(chǎn)品數(shù)：5PCS 

2、 記數(shù)器：8位，掉電記憶 

3、 測試頭伸縮行程：0-20mm

4、 測試速度：0-300次/分鐘

5、 打擊開關(guān)觸點力量：0-500gf可調(diào) 

6、 升降平臺行程：60mm 

7、 機臺尺寸：約W800×D420×H760mm 

8、 機臺重量：約120Kg 

9、 電源：AC220V 5A