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APCT -S系列 PCT老化試驗箱 飽和

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PCT老化試驗箱(又稱PCT高壓加速老化試驗機)可模擬半導體、PCB、IC、LCD等試品PCT測試所需嚴苛溫度、濕度及高氣壓綜合環境以驗證產品封裝耐壓性氣密性。PCT老化試驗箱是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間,主要是模擬氣候環境測試產品在不同溫度、濕度及壓力下密封性、氣密性的試驗設備。其廣泛應用于電子器件、汽車零配件、塑膠、線路板、IC、LCD、LED、磁鐵等行業。

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| 產品介紹

PCT老化試驗箱 飽和

APCT -S系列

突出特點:

PCT高壓加速老化試驗箱最主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力,待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。

合作案例

技術參數

型號APCT -S-
25A30A40A50A25B30B
控制器微電腦飽和蒸汽溫度+時間+壓力顯示獨立控制器
   
控制精度:溫度:0.1℃,壓力:0.1kg/cm2(指針式)
性能溫度范圍100℃~132100℃~147
濕度范圍99%RH飽和蒸汽
溫濕波動度溫度:±0.5℃,濕度:99%RH
壓力范圍表壓力+02.0kg/cm2表壓力+03.5kg/cm2
加壓時間大約45分鐘大約55分鐘
循環方式水蒸氣自然對流循環
標稱內容積17L31L69L117L17L31L
內箱尺寸
   
(直徑x深)cm
Φ25xD35Φ30xD45Φ40xD55Φ50xD60Φ25xD35Φ30xD45
外箱尺寸
   
(寬xx高)cm
566676865666
105125135145105125
6510511513565105
材質內箱SUS316#不銹鋼
外箱高級鋼板烤漆或不銹鋼
保溫*
密封進口硅膠密封條
試樣架試樣架隔板(標配2套),可定制專用試樣架
安全保護

試驗時全程檢測超溫超壓保護;

階段高溫保護,階段高壓保護,箱門壓力限制,水箱缺水報警斷電,溫度加熱器保護,濕度加濕器保護;

第二階段高溫保護,第二階段高壓保護;第三階段緊急泄壓保護,手動泄壓保護,自動泄壓等。



注:以上技術參數為室溫+20℃或循環水溫+25℃、空載(無試樣)時下所測得。

試驗標準及方法

MS IEC 60068-2-66-2008  環境試驗 第2-66部分-試驗方法 試驗Cx-穩態濕熱(不飽和加壓蒸汽)


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