德國Becker & Hickl公司成立于1993年,擁有的時間相關單光子計數(TCSPC)技術,能夠在短暫的實驗過程中得到多維光子分布信息,如時間、波長、空間坐標、熒光壽命等。產品被廣泛的應用于熒光光譜,熒光壽命成像及時域光學層析儀器。
德國Becker & Hickl公司成立于1993年,擁有的時間相關單光子計數(TCSPC)技術,能夠在短暫的實驗過程中得到多維光子分布信息,如時間、波長、空間坐標、熒光壽命等。產品被廣泛的應用于熒光光譜,熒光壽命成像及時域光學層析儀器。
由Becker&Hickl GmbH設計和制造–BH設計和制造各種具有超高分辨率的,小于1 ps bin寬度的TCSPC和光子相關器模塊,是市場上該領域的技術和。所有SPC模塊都使用多維TCSPC工藝以及高速高分辨率TAC / ADC原理。因此,SPC模塊可用于經典的熒光壽命應用以及熒光壽命成像(FLIM),多波長FLIM,同時熒光和磷光壽命成像(FLIM / PLIM),快速時間序列FLIM,熒光相關光譜(FCS),單分子實驗,反聚束實驗和許多其他多維光子記錄任務。
選擇您的模塊:
SPC-130-EMN | SPC-150N | SPC-150NX | SPC-150NXX | SPC-160 SPC-160PCIe | DPC-230 | |
低成本高速 | 通用性 | 超高分辨率 | 極限分辨率 | FLIM強度計數器 | 16通道光子計數器 | |
FLIM / FCS | 否/是 | 是/是 | 是/是 | 是/是 | 是/是 | 是(4) /是 |
每個模塊的探測器數量 | 最多16 (1) | 最多16 (4) | ||||
并行模塊數 | 最多4 (2)或32 (3) | 最多4 (2)或32 (3) | ||||
多模塊封裝 | SPC-132-EMN SPC-133-EMN SPC-134-EMN | SPC-152N SPC-153N SPC-154N | SPC-152NX SPC-153NX SPC-154NX | SPC-152NXX SPC-153NXX SPC-154NXX | SPC-162 SPC-163 SPC-164 | 根據要求 |
最小時間通道寬度 | 813 fs | 813 fs | 407 fs | 203 fs | 813 fs | 165 ps |
電子時間分辨率(RMS) | 2.5 ps | 2.5 ps | 1.6 ps | 1.1 ps | 2.5 ps | |
FIFO(時間標記)模式? | 是 | 是+ FIFO Image | 是+ FIFO Image | 是+ FIFO Image | 是+ FIFO Image | 是+ FIFO Image |
Simple-Tau Ⅱ |
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Simple-Tau | |
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Power-Tau | |
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Max-Tau | |
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SPC-160/ SPC-160 pcie |
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SPC-830 | |
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SPC-150 N | |
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SPC-150 NX | |
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SPC-150 NXX | |
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SPC-130 EMN | |
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SPC系列TCSPC計數模塊不僅可以單張使用,也可以多張聯用進行多通道采集,獲得更高的計數率,以及更快的采集速度。如在快速成像的FLIM系統中,可以獲得更高的壽命圖像幀頻。BH可提供多達12路的平行通道的多模塊計數器。
SPC-130 EMN datasheet
Simple-Tau 130 datasheet
SPC-150N datasheet
Simple-Tau 150 datasheet
Simple-Tau 152 datasheet
SPC-150NX datasheet
SPC-150NXX datasheet
SPC-160 datasheet
SPC-160 pcie datasheet
SPC-830 datasheet
DPC-230 datasheet
Simpe-Tau II datasheet
Max-Tau datasheet
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