AFM-T教學型原子力顯微鏡主要特點

• 小型化及可拆卸化設計，方便攜帶及教學；
• 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩定可靠；
• 精密激光及探針定位裝置，更換探針及調節光斑簡單方便；
• 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，準確定位掃描區域，使針尖垂直于樣品掃描；
• 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；
• 4X物鏡光學定位，無需調焦，實時觀測與定位探針樣品掃描區域；
• 彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，防震效果好；
• 集成掃描器硬件非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優于98%。

AFM-T教學型原子力顯微鏡應用范圍