當前位置:儀器網 > 產品中心 > 物性測試儀器及設備>無損檢測/無損探傷儀器>工業CT> GE菲尼克斯 微米焦點工業.
返回產品中心>phoenixmicrome|x——高分辨率的微焦點X射線檢測系統,主要設計用于焊點和電子元件的實時X射線檢測它將高分辨率的二維X射線技術和計算機斷層掃描結合在一個系統中,同時具有創新的功能
phoenix microme|x
—— 高分辨率的微焦點X射線檢測系統,主要設計用于焊點和電子元件的實時X射線檢測
它將高分辨率的二維X射線技術和計算機斷層掃描結合在一個系統中,同時具有創新的功能。多功能、易于使用的phoenix microme|x 提供了出色的圖像質量,可以用于故障分析實驗室以及生產車間。它配備了phoenix|X射線專有的圖像處理軟件,用于PCB裝配的自動檢測,提供更高的缺陷覆蓋率,同時提高了生產效率。
主要功能
高放大倍率
精確的操作
高度的可再現性
180千伏/ 20瓦的高功率微焦點管,可進行達0.5微米的細節探測
可選:
x|act 軟件包用于方便快捷的基于CAD的高分辨率自動X射線檢測(?AXI),以達到更高的缺陷覆蓋率,具有高放大倍率和可再現性
通過高動態溫度穩定的GE DXR數字探測器與主動冷卻獲取的30 FPS(幀每秒)的清晰的活動影像
10秒內的三維計算機斷層掃描
通過菱形|窗口以同樣的高圖像質量水平進行快達2倍的數據采集
顧客利益
組合的二維 /三維CT操作
通過菱形|窗口(可選)以同樣的高圖像質量水平進行快達2倍的數據采集
組合的二維 /三維CT操作
檢測步驟的自動化是可能的
顯著的易用性
![]() | 電力電子設備 將功率半導體元件的表面焊接到陶瓷基板上。通過3毫米厚的銅散熱器,基板空洞是可見的,半導體的焊點是無空洞的,甚至薄鋁焊線也是可見的。 |
![]() | | 安裝好的印刷電路板 通孔插裝焊點帶CAD覆蓋的微焦點X射線圖像 |
![]() | | 半導體與其他電子元件 直徑為25微米銅焊線的高放大倍率微焦點X射線圖像 |
管電壓 | 180 千伏 |
---|---|
功率 | 20 瓦 |
細節檢測能力 | 高達0.5微米 |
最小焦物距 | 0.3毫米 |
體素分辨率(取決于物體大小) | < 2 μm |
幾何倍率(2D) | 高達1970倍 |
幾何放大倍率 (3D) | 100倍 |
目標尺寸(高 x 直徑) | 680毫米 x 635毫米 / 27" x 25" |
物體重量 | 10 千克/ 22 磅 |
圖像鏈 | 200萬像素的數字圖像鏈 |
操作 | 5軸的樣本操作 |
2D X射線成像 | 可以 |
三維計算機斷層掃描 | 可以(可選) |
系統尺寸 | 1860 毫米 x 2020 毫米 x 1920 毫米 / 73.2” x 79.5” x 75.6” |
系統重量 | 2600千克/ 5070 磅 |
輻射安全 | - 全防輻射安全柜,按照德國ROV(附件2 nr. 3)和美國性能標準21 CFR 1020.40(機柜X射線系統) - 輻射泄漏率: < 1.0 μSv/h從機柜壁的10厘米處測量 |
*您想獲取產品的資料:
個人信息: