CNX-808順序式波長色散X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于冶金、地質、建材、環境等領域多種類型樣品的元素分析。

CNX-808順序式波長色散X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于冶金、地質、建材、環境等領域多種類型樣品的元素分析。

儀器特點：

1.X射線源：
4kW大功率高壓發生器，保證檢測下限和分析速度；優化的功率自動調節程序，能夠快速調整功率，監控X射線管狀態，提高使用壽命；一體化冷卻水機，提供對X射線管更可靠的保護。

2.光路設計：
光程短，有利于獲得更大的計數率。提供最多10組濾光片、10組光闌、4組初級準直器、10組分光晶體的配置。

3.可靠的精度測角儀：
θ/2θ單獨驅動，測角儀采用成熟可靠的傳動和反饋技術，在保證性能優異的同時，具有可靠性高、使用壽命長等特點。

4.分析測試軟件:
界面友好，操作便捷，內置多種算法，全自動化測試過程，滿足定量定性分析需要。

儀器參數：

高壓發生器
功率：4kW

X射線管
端窗
可選靶材：Rh、Cu、Mo、W、Cr、Pt
鈹窗厚度：75μm/50μm可選

自動進樣器
1位/48位可選，機械手自動進樣系統

樣品尺寸
固體，φ50mm*H30mm

樣品臺
極坐標定位、帶自旋功能

初級濾光片
Ti、Zr、Cu、Al等多種材質和厚度可選，最多可配10片

光闌
φ35,30,25,20,10,3,1,0.5mm及衰減器

初級準直器
150、300、500、750、3000μm可選，做多可配4種

測角儀
θ－2θ獨立驅動
掃描范圍：SC（1-118°）、PC（10-148°）
步進角度：0.001°、0.002°、0.005°、0.01°、0.02°、0.05°、0.1°
角度重復性：±0.0001°
角度精度：±0.0005°

分光晶體
10位晶體交換器，liF200、LiF220、PET、Ge、多層膜晶體等可選

探測器
閃爍體計數器（SC）、正比式流氣計數器（F-PC）

恒溫器
36.5±0.05℃

真空系統
分析室和進樣室雙真空

選配件
分析室充He氣系統（分析液體樣品的氣氛）
能譜探測器SDD，可與波譜復合使用，提高檢測效率
樣品CCD照相系統，配合分布分析使用
達到《JJG 810-1993 波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程》