當前位置:儀器網 > 產品中心 > 化學分析儀器>光譜>X射線熒光光譜儀(XRF)> X熒光貴金屬檢測儀 Smart100 Plus
返回產品中心>性能特點快,1秒鐘出結果采用行業的極速探測器——(F-SDD)分辨率較低至125eV優勢:F-SDD的探測面積大(面積達25mm)、探測面積越大,單位時間內接受到的信號越多
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