是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀，它采用了理學的CBO交叉光學系統，一臺儀器可以進行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內的薄膜樣品測試。采用組合式結構，通過對各個單元的不同組合，可以進行各種測試。

◤ 理學X射線衍射儀技術參數：

◣ 1. X射線發生器功率為3KW；
◣ 2. 測角儀為水平測角儀；
◣ 3. 測角儀步進下線為1/10000度；
◣ 4. 測角儀配程序式可變狹縫；
◣ 5. 高反射效率的石墨單色器；
◣ 6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路（帶Mirror）；
◣ 7. 小角散射測試組件；
◣ 8. 多用途薄膜測試組件；
◣ 9. 微區測試組件；
◣ 10. In-Plane測試組件；
◣ 11. 高速探測器D/teX-Ultra；
◣ 12. X射線衍射-差示掃描量熱儀同時測量裝置 XRD-DSC；
◣ 13. 分析軟件包括：XRD分析軟件包、NANO-Solver軟件包、GXRR軟件包等。

◤ 理學X射線衍射儀主要特點：

組合式多功能X射線衍射儀Ultima IV系列，可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。可以分析的材料包括：金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料可以分析的材料狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品

◤理學X射線衍射儀 主要的應用：

◣ 1. 粉末樣品的物相定性與定量分析；
◣ 2. 計算結晶化度、晶粒大小；
◣ 3. 確定晶系、晶粒大小與畸變；
◣ 4. Rietveld結構分析；
◣ 5. 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度；
◣ 6. In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構；
◣ 7. 小角散射與納米材料粒徑分布；
◣ 8. 微區樣品的分析。