精確測量殘余奧氏體的含量，對于熱處理的控制是非常重要的，X射線衍射法（XRD）是可以準確測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法，殘余奧氏體的測量遵循國際標準ASTM E975-03規則。
X射線發生器 | 輸出功率（max） | 3KW |
輸出穩定性 | <0.01% (電源供給10%的波動） | |
輸出電壓 | 60KV | |
輸出電流 | 60mA | |
電壓步寬 | 0.1KV | |
電流步寬 | 0.1mA | |
波動 | 0.03% rms < 1kHz, 0.75% rms > 1kHz | |
預熱與電路 | 自動預熱和斜坡控制電路 | |
輸入電壓 | 230 V +/- 10%, 50 或60 Hz, 單相 | |
X射線光管 | 光管類型 | 玻璃（可選陶瓷），Mo靶材，細焦斑（可根據要求選其他型號） |
焦斑尺寸 | 0.4 x 8 mm FF (可選0.4 x 12 mm LFF; 1 x 10 mm NF) | |
準直 | 單毛細管準直器:直徑1 - 2毫米 | |
輸出電壓（max） | 3KV | |
測角儀 | 配置 | 垂直測角儀 |
掃描角范圍 | 27° < 2θ< 40° | |
角準確度 | ± 0.001° | |
樣品臺 | 尺寸 | 110 mm x 150 mm |
探測器 | 類型 | 高分辨率，帶直接耦合（微米）光纖輸入的X射線數碼攝像儀和帶制冷CCD |
機體 | 尺寸 | 658 mm X1059 mm X762 mm |
X射線泄露量 | < 1 mSv/年 （按照國際準則充分安全屏蔽） | |
處理單元 | 計算機類型 | 個人計算機 |
控制對象 | X射線發生器、探測器和數據庫 | |
基本數據處理 | 建立校準曲線，殘余奧氏體計算 |
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