儀器簡介：

   該儀器是利用多光束干涉原理設計的一種干涉儀。它的特點是能夠獲得十分細銳的干涉條紋，因此一直是長度計算和研究的光譜超精細結構的有效工具，多光束干涉原理還在激光器和光學薄膜理論中有著重要的應用，是制作光學儀器中干涉濾光片和激光共振腔的基本構型。觀察多光束干涉條紋；測定鈉黃雙線的波長差；其他實驗（配合適當器件，觀察汞同位素的光譜線移位現象及光譜線在磁場中分裂的塞曼效應等）。

實驗內容：

1、測定鈉黃雙線的波長差

2、了解觀察多光束干涉的條紋特征

3、學會使用用法布里—珀涉儀的調整

4、學會用法布里—珀涉儀測量光波微小波長差和觀測光譜線的精細結構

主要配置和參數：

1、反射鏡：Φ300mm,平面度 1/20λ；移動鏡預置螺旋：最小分度值0.01mm，行程10mm(5-15mm) 測量精度：最小讀數值0.0005mm,行程1.25mm

2、f'=45mm,附帶鏡框

3、55*55mm，毛玻璃屏

4、通用底座、透鏡架、小型顯微鏡及鏡架

5、低壓鈉燈20W