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日本Photonic Lattice Online雙折射測量儀KAMAKIRI

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主要特點:適用于薄膜等生產線上,實現各個環節的雙折射測量LIVE實時輸出雙折射的信息OK/NG可以在執行Live監測的同時對異常點發出警報操作簡單,可以調整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布實時記錄雙折射的數值數據,以進行進一步詳細分析。可以通過在系統中增加偏光感應器來擴展測量的寬度。

詳細信息 在線詢價

主要特點:

  • 適用于薄膜等生產線上,實現各個環節的雙折射測量

  • LIVE實時輸出雙折射的信息

  • OK/NG可以在執行Live監測的同時對異常點發出警報

  • 操作簡單,可以調整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布

  • 實時記錄雙折射的數值數據,以進行進一步詳細分析。

  • 可以通過在系統中增加偏光感應器來擴展測量的寬度。


應用領域:

  • 相位差薄膜(TAC/PC/PMMA/COC)

  • 保護薄膜(PET/PEN/PS/PI)

  • 樹脂成型

  • 玻璃


術參數:

項次

項目

具體參數

1

輸出項目

相位差【nm】,軸方向【°】


2

測量波長

520nm


3

雙折射測量范圍

0-130nm/0-260nm(選配)


4

主軸方位范圍

0-180°


5

測量重復精度

<1nm(西格瑪)


6

測量寬度尺寸

350mm


7

寬度方向測量點

2560



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