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雙折射成像系統

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雙折射成像系統


特性

?內置波長為633 nm的光源

?所測樣品相位延遲**為半波長(316 nm),方位角范圍為±90°

??20 mm的視場

?完整的成像系統包含軟件和筆記本電腦

?兼容MLS203-1
XY掃描位移臺

?定制工作波長可聯系技術支持

Thorlabs的LCC7201雙折射成像系統用于學術研究、醫療診斷、工業制造和產品質量保證,可以測量晶體和液晶設備等平整的平面樣品的相位延遲和方位角,非常適合檢測由應力引起的雙折射特性。由于該系統基于液晶器件,其內部沒有相對機械運動,從而在運行過程中非常穩定,毫無振動干擾。

LCC7201工作的波長為633 nm,提供?20 mm的視場。該系統所測相位延遲范圍**為半波長(316 nm),方位角范圍為±90°。此外,還可以定制波長范圍從405 nm到810 nm的工作波長。欲定制此類工作波長,請聯系技術支持。

在觀察樣品方面,LCC7201包含我們公司的MLS203P2樣品支架,同時還包含三個樣品支架插入件,分別可以固定?0.5英寸、 ?1英寸和2英寸 x 2英寸的光學元件。MLS203P2在X方向上可以實現手動調節,適用于比?20 mm視場大的樣品。此外,該系統還兼容Thorlabs的MLS203-1
XY掃描位移臺(提供X軸和Y軸方向的手動調節和電動調節),升級之后的版本可以掃描更大的樣品。LCC7201的規格如右表所示。

購買時附帶軟件預先裝好的Windows®筆記本電腦。想要了解其他有關這個系統的軟件特性和樣品測量結果的信息,請查看上面的軟件標簽。

Specifications

Light Source Wavelengtha

633 nm

Retardance Measurement Range

Standard Retardance Range:
0 to 316 nm
Low Retardance Range: 0 to 100 nm

Azimuth Measurement Range

±90°

Retardance Measurement Accuracy

Standard Retardance Range: < ±10 nm
Low Retardance Range: < ±1 nm

Azimuth Measurement Accuracy

Standard Retardance Range: < ±3°
Low Retardance Range: < ±1°

Measurement Rateb

< 15 s

Field of View

?20 mm

Spatial Resolution

9.77 μm

Interfaces

USB 2.0 and Gigabit Ethernet

Camera Resolution

2048 x 2048 Pixels

Dimensions

500.0 mm (D) x 360.0 mm (W) x 672.0 mm (H)

Weight

26 kg (57.3 lbs)

Operating Temperature

0 to 40
°C

Storage Temperature

-15 to 65
°C

Included Accessories

Laptop PC, Sample Holders,
Birefringent Resolution Target (Item #
R2L2S1B)

a
可按需求定制。詳情請聯系技術支持。

b
默認相機設置時的性能。

雙折射成像系統

產品型號 - 公英制通用

LCC7201

Customer Inspired!
雙折射成像系統




江陰韻翔光電技術有限公司

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電話:86-0510-81602050

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