· 不但可進行定性/定量等基本分析，還可以應用于殘留奧氏體定量、環境定量、晶格常數的精密化、結晶度的計算、晶體粒徑和晶格應力的計算、晶系確定、Rietveid結構解析軟件進行的晶體結構解析。通過追加附件，還可以應用于應力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。

· 利用新開發的大型R-θ樣品臺，可以進行大350mmφ樣品全表面的自動應力成圖測定。

· 采用強大的多毛細管平行光束系統，可對應凹凸不同的樣品的分析，擴大應用范圍。