它擁有的數字掃描參數分析儀，
可靠的測試儀，強有力的故障，分析工具，自動檢查設施；幸免綜合至同參儀器中。
新產品的設計目標清楚地瞄準為亞微米幾何尺寸器件評估提供前所未見的精度和功能。
Agilent4155B新一代精密半導體器件參數分析儀4155B
它擁有的數字掃描參數分析儀，
可靠的測試儀，強有力的故障，分析工具，自動檢查設施；幸免綜合至同參儀器中。
新產品的設計目標清楚地瞄準為亞微米幾何尺寸器件評估提供前所未見的精度和功能。
它是一種可靈活使用的儀器，無疑對從材料評價至器件性牟的表征，乃至***后封裝等各
個階段的部分檢查和現場故障分析可提供諸多應用，以改進半導體器件的質量。
正確方案的抉擇
Agilent4155B新一代精密半導體器件參數分析儀4155B
Agilent 4155B設有四個內置源/監測單元（SMU），兩個電壓單元（VSU）
Agilent4155B新一代精密半導體器件參數分析儀4155B
備注：
我們的優勢：
品種齊全，貨源充足，存庫雄厚，服務快捷，維修能力強。
我公司對銷售的儀器儀表均負責保修一年.
本公司長期供應/租賃/維修二手進口儀器
*您想獲取產品的資料：
個人信息：
