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SIRIS-TOFMS 濺射原子化激光共振電離飛行時間質譜儀

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濺射原子化激光共振電離飛行時間質譜儀(Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS)

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儀器簡介:

濺射原子化激光共振電離飛行時間質譜儀(Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS) 

SIRIS分析步驟:

1、通過能量強大的離子束,解吸附和霧化(分離成原子)樣品的一小部分(濺射)。

2、在濺射過程中抑制離子形成。

3、濺射中性粒子的選擇性激光電離(共振電離光譜)。

4、離子的飛行時間質譜分析。



技術參數:

濺射原子化激光共振電離飛行時間質譜儀(Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS)技術特點: 

1、激光系統包括Nd:YAG激光泵的二波長可調激光器。

2、標準系統包括可選擇微焦點離子槍(50 ?m光斑尺寸)或液態金屬離子槍(100nm光斑尺寸);兩種離子槍都配作為一個選項。 x, y, z, ? 四維樣品操縱器,X、Y方向上的精度為亞微米級。

3、16方位輪播樣品臺。

4、靜電分析儀,從根本上消除了由于非選擇性表面電離的影響。

5、組合微通道板-閃爍器-光電倍增管,可獲得高增益檢測與*的脈沖高度分布。

6、一周的儀器操作培訓和SIRIS數據分析培訓。



主要特點:

濺射原子化激光共振電離時間質譜儀(Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer  SIRIS-TOFMS)

是一種新型微區定量高靈敏分析儀器。它集離子濺射、共振電離與飛行時間質港等技術于一體,由于具有高電離效率、高靈敏性、高選擇性、適用范圍廣以及基體效應小等特點,可以實現復雜樣品微區微量成份的定量分析。

廣泛應用于核物理、地質、礦產、鋼鐵、半導體材料、環境等許多領域。

我公司有超過25年的SIRIS研究和儀器化的經驗,提供完整的SIRIS儀器,目前已經向*各個國家的科研機構提供了幾十臺SIRIS-TOFMS儀器。

 


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