高頻介電常數測試儀廠家 讀數清晰,無須換算,操作簡便,特別適合電子元器件的質量分析,品質控制,科研生產,也可用于高校的電子信息,電子通信,材料科學等專業作科研實驗儀器.

高頻介電常數測試儀廠家  介質損耗（dielectric loss ）指的是絕緣材料在電場作用下，由于介質電導和介質極化的滯后效應，在其內部引起的能量損耗。也叫介質損失，簡稱介損。

高頻介電常數測試儀廠家  滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法

技術指標

1．Q值測量

   a．Q值測量范圍：2～1023。

   b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。

   c．標稱誤差

頻率范圍20kHz～10MHz；

固有誤差≤5％

工作誤差≤7％

頻率范圍10MHz～60MHz；

固有誤差≤6％

工作誤差≤8％

2．電感測量范圍：14.5nH~8.14H

3．介電常數介質損耗試驗儀電容測量：1~ 460

直接測量范圍

1～460pF     主電容調節范圍      準確度 30～500pF   150pF以下±1.5pF；   150pF以上±1％

   注：大于直接測量范圍的電容測量見使用規則

4．介電常數介質損耗試驗儀信號源頻率覆蓋范圍

頻率范圍

10kHz～50MHz

頻率分段

(虛擬)

10～99.9999kHz

100～999.999kHz

1～9.99999MHz

10～60MHz     

5、電感：

線圈號    測試頻率    Q值    分布電容p       電感值  

  9         100KHz      98       9.4           25mH

  8         400KHz     138       11.4        4.87mH

  7         400KHz    202       16           0.99mH

  6           1MHz     196       13          252μH

  5           2MHz     198       8.7        49.8μH

  4         4.5MHz    231       7             10μH

  3          12MHz      193     6.9         2.49μH

  2          12MHz      229     6.4        0.508μH            

  1   25MHz，50MHz   233，211    0.9       0.125μH

6、雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

7、雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。

8、雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

9、自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

10、全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

11、DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。

12、計算機自動修正技術和測試回路優化 —使測試回路 殘余電感減至低，治療 Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。

電橋測量靈敏度

    電橋在使用過程中，靈敏度直接影響電橋平衡的分辨程度，為保證測量準確度，

希望電橋靈敏度達到一定的水平。通常情況下電橋靈敏度與測量電壓，標準電容量

成正比。

    在下面的計算公式中，用戶可根據實際使用情況估算出電橋靈敏度水平，在這

個水平上的電容與介質損耗因數的微小變化都能夠反應出來。

          DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)   

         式中：Ｕ為測量電壓                     伏特（Ｖ）

ω為角頻率 2pf=314(50Hz)                            

          Ｃｎ標準電容器容量                    皮法（pＦ）

          Ｉｇ通用指另儀的電流5X10-10            安培（Ａ）

          Ｒｇ平衡指另儀內阻約1500              歐姆（W）

          Ｒ４橋臂R4電阻值3183                 歐姆（W）

          Ｃｘ被測試品電容值                    皮法（ｐF）

主要特點：

空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。

 安全措施

（1）高壓保護：試品短路、擊穿或高壓電流波動，能迅速切斷高壓輸出。

（2）CVT保護：設定自激電壓的過流點，一旦超出設置的電流值，儀器自動退出測量，不會損壞設備。

（3）接地檢測：儀器有接地檢測功能，未接地時不能升壓測量。

（4）防誤操作：具備防誤操作設計，能判別常見接線錯誤，安全報警。

（5）防“容升”：測量大容量試品時會出現電壓抬高的“容升”效應，儀器能自動跟蹤輸出電壓，保持試驗電壓恒定。

高頻西林電橋

    這種電橋通常在中等的電壓下工作，是比較靈活方便的一種電橋;通常電容 C_N是可變的(在高壓電橋中電容 C_N通常是固定的)，比較容易采用替代法。

    由于不期望電容的影響隨頻率的增加而增加，因此仍可有效使用屏蔽和瓦格納接地線路。

高頻電橋
由于它不再是一個高壓電橋，因此承受電壓U₁的臂能容易地引人可調元件;替代法在此適用
 還應指出，帶有分開的初級繞組的電橋允許電源和檢測器互換位置。其平衡與在次級繞組中對應
的安匝數的補償相符.

  電介質的用途

 電介質一般被用在兩個不同的方面:

 用作電氣回路元件的支撐，并且使元件對地絕緣及元件之間相互絕緣;

 用作電容器介質

原理：

基于串聯諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測試系統的二次儀表，其數碼化主調電容器的創新設計代表了行業的成就，隨之帶來了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。該表具有先進的人機界面，采用LCD液晶屏顯示各測量因子：Q值、電感L、主調電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，頻率精度高達1×10^-6。國標GB/T 1409-2006規定了用Q表法來測定電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)，把被測材料作為平板電容的介質，與輔助電感等構成串聯諧振因子引入Q表的測試回路，以獲取測試靈敏度。因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質在高頻工作狀態下的特征。

　　 GDAT高頻Q表的全數字化界面和微機控制使讀數清晰穩定、操作簡便。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ，無須關注量程和換算，*摒棄了傳統Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況，它無疑是電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)測量的理想工具。

小知識：

相對電容率 relativep ermittivity
ε_r
電容器的電極之間及電極周圍的空間全部充以絕緣材料時，其電容 C_x與同樣電極構形的真空電容C_o 之比:

       Cx

εr = ——　　----------（１）

       Co

式 中 :
ε_r  — 相對電容率;
C_X  — 充有絕緣材料時電容器的電極電容;
C_o  — 真空中電容器的電極電容。
在標準大氣壓下，不含二氧化碳的于燥空氣的相對電容率ε_r等于1.00053。因此，用這種電極構形在空氣中的電容C_a來代替C_o測量相對電容率ε_r時，也有足夠的精確度。
在 一 個 測量系統中，絕緣材料的電容率是在該系統中絕緣材料的相對電容率ε_r與真空電氣常數ε_o的乘積.

復相對電容率complex relative permittivi

ε_r      由相對電容率和損耗指數結合而得到的：

ε_r    = ε'_r  －　 ｊε^〃_r　　----------（３）

ε^〃_r＝　ε_r　　----------（４）

ε^〃_r＝　ε_r　　----------（５）

　　　　ε^〃_r

Tanδ = --　　　　　　　　　　　　　　　----------（６）

　　　　ε^'_r

式中：

ε_r --------  復相對電容率；

ε^〃_r--------  損耗指數；

ε^'_r、ε_{r   --------} 相對電容率；

溫度
損耗指數在一個頻率下可以出現一個醉大值，這個頻率值與電介質材料的溫度有關。介質損耗因數和電容率的溫度系數可以是正的或負的，這取決于在測量溫度下的介質損耗指數醉大值位置。

濕度
極 化 的 程度隨水分的吸收量或電介質材料表面水膜的形成而增加，其結果使電容率、介質損耗因數
和直流電導率增大。因此試驗前和試驗時對環境濕度進行控制是*的
注 :濕 度 的顯著影響常常發生在1MHz以下及微波頻率范圍內