| 參考價 | ￥ 550000 |
| 訂貨量 | ≥1臺 |
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名稱： OLS5000 3D 測量激光顯微鏡
LEXT OLS5000 3D是一款激光掃描顯微鏡，通過非接觸方式進行樣品表面三維形貌觀察和測量，不會損壞樣品。可以方便快捷地獲取影像，同時配備豐富的測量功能、包括粗糙度測量。
OLS5000 3D 測量激光顯微鏡 OLS5000 3D 測量激光顯微鏡
LEXT OLS5000 3D是一款激光掃描的顯微鏡，通過非接觸方式進行樣品表面三維形貌觀察和測量，不會損壞樣品。可以方便的快捷地獲取影像，同時配備豐富的測量功能、包括粗糙度測量。
LEXT OLS5000 3D是一款激光掃描顯微鏡，通過非接觸的方式進行樣品表面三維形貌觀察和測量，不會損壞樣品。可以方便快捷地獲取影像，同時配備豐富的測量功能、包括粗糙度測量。
LEXT OLS5000 3D是一款激光掃描顯微鏡，通過非接觸的方式進行樣品表面三維形貌觀察和測量，不會損壞樣品。可以方便快捷地獲取影像，同時配備豐富的測量功能、包括粗糙度測量。
LEXT OLS5000 3D是一款激光掃描顯微鏡，通過非接觸的方式進行樣品表面三維形貌觀察和測量，不會損壞樣品。可以方便快捷地獲取影像，同時配備豐富的測量功能、包括粗糙度測量。
LEXT OLS5000 3D是一款激光掃描顯微鏡，通過非接觸的方式進行樣品表面三維形貌觀察和測量，不會損壞樣品。可以方便快捷地獲取影像，同時配備豐富的測量功能、包括粗糙度測量。
LEXT OLS5000 3D是一款激光掃描顯微鏡，通過非接觸的方式進行樣品表面三維形貌觀察和測量，不會損壞樣品。可以方便快捷地獲取影像，同時配備豐富的測量功能、包括粗糙度測量。
憑借對各種類型樣品進行精確3D測量的能力，系統可提供用于質量保證和工藝控制的可靠數據。
405納米紫色激光和高數值孔徑物鏡可以捕捉到傳統光學顯微鏡、白光干涉儀或紅色激光顯微鏡難以發現的精細紋理和缺陷。 | ||
紅光型（658納米：0.26微米空間) | 微米紫光型（405納米：0.12線和空間) | |
LEXT物鏡可精確測量采用其他方式測量會發生畸變的周邊區域。
傳統物鏡
LEXT物鏡
新的MEMS掃描振鏡具有較低的掃描軌跡失真和較小的光學像差，可進行精確的X-Y掃描。
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