XTOM——三維光學面掃描系統

XTOM三維面掃描系統基于雙目立體視覺原理，采用的外差式多頻相移三維光學測量技術，測量精度、測量速度等性能都達到水平，與傳統的格雷碼加相移方法相比，測量精度高，抗*力強、受被測工件表面明暗影響小，可以掃描測量幾毫米到幾十米的工件和物體。廣泛適用于各種需求三維數據的行業，如汽車工業、飛機工業、摩托車外殼及內飾、家電、雕塑等。

應用范圍

• 逆向設計：快速獲取零部件的表面點云數據，建立三維數模，從而達到產品快速設計的目的。

• 產品檢測：生產線產品質量控制和形位尺寸檢測，特別適合復雜曲面的檢測，可以檢測鑄件、鍛件、沖壓件、模具、注塑件、木制品等產品。

• 其他應用：文物掃描和三維顯示、牙齒及畸齒矯正、整容及上頜面手術。  

功能特色

• 掃描預覽，實時跟蹤標志點

• 針對不同幅面的標定板，靈活的相機標定

• 掃描結果三維顯示，靈活的三維顯示控制

• 坐標轉換功能

• 具備光學探針功能

• 321坐標轉換功能

• 具備點距測量功能

• 具備多種后處理功能，包括點云精確匹配、重疊面自動融合等

• 具備多種元素擬合功能：點、線、面、球、圓柱、圓錐等

• 具備多種偏差分析功能：點偏差、距離偏差、角度偏差等

TOPSCAN-TC

單目型

TOPSCAN-MIC

教育型

TOPSCAN-EDU

教育四目

TOPSCAN-ET

工業型

相機像素

128×96mm

400×300mm

32×24mm

64×48mm

128×96mm

128×96mm

400×300mm

128×96mm

400×300mm

800×600mm

XTOM——三維光學面掃描系統

XTOM三維面掃描系統基于雙目立體視覺原理，采用的外差式多頻相移三維光學測量技術，測量精度、測量速度等性能都達到水平，與傳統的格雷碼加相移方法相比，測量精度高，抗*力強、受被測工件表面明暗影響小，可以掃描測量幾毫米到幾十米的工件和物體。廣泛適用于各種需求三維數據的行業，如汽車工業、飛機工業、摩托車外殼及內飾、家電、雕塑等。

應用范圍

• 逆向設計：快速獲取零部件的表面點云數據，建立三維數模，從而達到產品快速設計的目的。

• 產品檢測：生產線產品質量控制和形位尺寸檢測，特別適合復雜曲面的檢測，可以檢測鑄件、鍛件、沖壓件、模具、注塑件、木制品等產品。

• 其他應用：文物掃描和三維顯示、牙齒及畸齒矯正、整容及上頜面手術。  

功能特色

• 掃描預覽，實時跟蹤標志點

• 針對不同幅面的標定板，靈活的相機標定

• 掃描結果三維顯示，靈活的三維顯示控制

• 坐標轉換功能

• 具備光學探針功能

• 321坐標轉換功能

• 具備點距測量功能

• 具備多種后處理功能，包括點云精確匹配、重疊面自動融合等

• 具備多種元素擬合功能：點、線、面、球、圓柱、圓錐等

• 具備多種偏差分析功能：點偏差、距離偏差、角度偏差等

TOPSCAN-TC

單目型

TOPSCAN-MIC

教育型

TOPSCAN-EDU

教育四目

TOPSCAN-ET

工業型

相機像素