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簡介：TranSpecMicro薄膜厚度測量新的光纖耦合TranSpecMicro薄膜厚度顯微鏡可以將薄膜厚度測量點的大小降到50-100um。測量點的圖像可通過裝在顯微鏡上的特殊彩色相機(jī)實時查看。Tr...

簡介：薄膜表面或界面的反射光會與從基底的反射光相干涉，干涉的發(fā)生與膜厚及折光系數(shù)等有關(guān)，因此可通過計算得到薄膜的厚度。光干涉法是一種無損、精確且快速的光學(xué)薄膜厚度測量技術(shù)，我們的光反射薄膜厚度測量儀采用...

簡介：白光干涉測厚儀

簡介：光源：綠光，白光測量模式：VSI,PSI底臺：4”手動臺軟件：VISION

簡介：WykoNT9100系列采用了Veeco第九代光學(xué)輪廓探測技術(shù)，在0.1nm到10mm的垂直掃描范圍內(nèi)提供了快速、高精度的三維表面形貌測量功能。NT9100光學(xué)輪廓儀是一款使用便利、性能，性價比高...

簡介：主要用途：粗糙和光滑表面的測量和顯示亞微米范圍內(nèi)的微觀形貌測量金相測量非接觸式表面輪廓的計量

簡介：采用ACM600共焦顯微鏡可對物體的表面和結(jié)構(gòu)進(jìn)行非接觸式的測量，評估和顯示。裝配不同的顯微物鏡，測量視場大小和精度也不同。視場的擴(kuò)展可通過釘合的方式來實現(xiàn)。

簡介：PR05/06白光干涉三維形貌儀是采用日本*的的白光干涉掃描技術(shù)研制的納米量級形貌測量儀器，透過精密的掃描系統(tǒng)和自主的解析算法，進(jìn)行樣品表面微細(xì)形貌的量測與分析。表面顯微成像能力與高精度測量的*結(jié)...

簡介：PR05/06白光干涉三維形貌儀是采用日本*的的白光干涉掃描技術(shù)研制的納米量級形貌測量儀器，透過精密的掃描系統(tǒng)和自主的解析算法，進(jìn)行樣品表面微細(xì)形貌的量測與分析。表面顯微成像能力與高精度測量的*結(jié)...

簡介：ContourGT系列結(jié)合*的64-bit,多核操作和分析軟件，白色光源干涉測量（WLI）硬件和*的操作簡易性，展現(xiàn)出歷史以來的3D光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)。第十代光學(xué)表面輪廓儀提供了超大視野埃米至毫米...