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簡介:Z3000 Plus Nicomp 380 系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380ZLS&S基礎上升級配套而來,采用動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,同機采用多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)檢測ZETA電位。
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簡介:貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個更高的水平,升級版PIDS專項技術、優化的132枚檢測器,保證了儀器分辨率更高,結果更準確,再現性更好。
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面議0
簡介:●超小體積設計●可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量。●樣品濃度從PPM到百分之幾十,SZ-100都能在原液狀態下取樣和測定。●HORIBA自主研發的微量電泳樣品池,可以測...
北京森瑞科技有限公司 會員等級: 產地:國外我要詢價 -
面議0
簡介:動態光散射,準彈性光散射,測量光強的波動隨時間的變化。DLS技術測量粒子粒徑,具有準確、快速、可重復性好等優點,已經成為納米科技中比較常規的一種表征方法。
北京誠驛恒儀科技有限公司 會員等級: 產地:國外我要詢價 -
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簡介:動態光散射,準彈性光散射,測量光強的波動隨時間的變化。DLS技術測量粒子粒徑,具有準確、快速、可重復性好等優點,已經成為納米科技中比較常規的一種表征方法。
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簡介:動態光散射,準彈性光散射,測量光強的波動隨時間的變化。DLS技術測量粒子粒徑,具有準確、快速、可重復性好等優點,已經成為納米科技中比較常規的一種表征方法。
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簡介:動態光散射,準彈性光散射,測量光強的波動隨時間的變化。DLS技術測量粒子粒徑,具有準確、快速、可重復性好等優點,已經成為納米科技中比較常規的一種表征方法。
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簡介:動態光散射,準彈性光散射,測量光強的波動隨時間的變化。DLS技術測量粒子粒徑,具有準確、快速、可重復性好等優點,已經成為納米科技中比較常規的一種表征方法。
北京誠驛恒儀科技有限公司 會員等級: 產地:國外我要詢價 -
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簡介:動態光散射,準彈性光散射,測量光強的波動隨時間的變化。DLS技術測量粒子粒徑,具有準確、快速、可重復性好等優點,已經成為納米科技中比較常規的一種表征方法。
北京誠驛恒儀科技有限公司 會員等級: 產地:國外我要詢價 -
面議2300
簡介:美國Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析儀,原理上采用經典靜態光散射技術和全程米氏理論處理,利用現代模塊式設計理念,使用獲得的三激光光源技術,配備超大角度雙鏡頭檢測系統,以對數方式排...
北京天恩瀚拓科技有限公司 會員等級: 產地:北京市我要詢價 -
面議2300
簡介:S3500SI圖像激光粒度分析儀----一臺儀器,兩種技術
北京天恩瀚拓科技有限公司 會員等級: 產地:北京市我要詢價 -
面議2132
簡介:產地:美國產品簡介:1)CHDF3000是基于光散原理的儀器,使用的技術對高分辨率的粒度分布(PSD)進行測量,包括高粒子檢測靈敏度、動態范圍、納米粒子的優化分析;
北京金恒祥儀器有限公司 會員等級: 產地:北京市我要詢價