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首頁>>北京華測試驗儀器有限公司>>產品展示>>半導體封裝材料測試系統>>半導體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統

  • 半導體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統 參考價：180000

    半導體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統高低溫環境下的絕緣電阻測試技術用于預測EMC的HTRB性能。電介質樣品暴露在高電場強度和高溫環境下。在這種情況下，高分子聚合...
    型號： SIR-450 廠商性質：生產商所在地：北京市 對比
    高低溫絕緣電阻測試系統半導體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統絕緣電阻測試半導體材料
    2025/2/4 17:50:1645
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