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EMS150膜厚監控儀(FilmThicknessMonitor)

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海德創業（北京）生物科技有限公司
2021-02-23 16:15:28
340

具體成交價以合同協議為準

【簡單介紹】

EMS 150膜厚監控儀(Film Thickness Monitor)

【詳細說明】

石英晶體是離子型的晶體，由于結晶點陣的有規則分布，當發生拉伸或壓縮時能產生電極化現象，稱為壓電現象。石英晶體壓電效應的固有頻率不僅取決于其幾何尺寸，切割類型，而且還取決于芯片的厚度。當芯片上鍍了某種膜層，使芯片的厚度增大，則芯片的固有頻率會相應的衰減。膜厚監控儀就是通過測量頻率或與頻率有關的參量的變化而監控淀積薄膜的厚度。

膜厚監控儀(FTM)是如何工作的呢？鍍膜時，膜厚監控儀里面的晶振片的高速振動，測試每秒鐘振動次數的改變，從所接受的數據中計算膜層的厚度。

儀器參數：

儀器尺寸	300mm (W) x 150mm (D) x 75mm (H)
重量	6Kg
可配套儀器	EMS 450, EMS 550, EMS 575, EMS 650, EMS 675, EMS 950, and the EMS 975
晶片座	置晶片裝置
密度范圍	1.55 to 23.0g/cm-3
測控范圍	5 to 999nm
鍍碳時精度	0.8nm
鍍金時精度	0.1nm
電源	230V 50 Hz (3 Amp Max)

訂購信息;

貨號	產品名稱	規格
91006	EMS 150 Film Thickness Monitor complete with terminate unit including crystal holder and fitted crystal. Standalone.	臺
91006-M	EMS 150 Film Thickness Monitor Built-in Module	臺
91008	Spare Crystals	盒
91009	Spare Glass Cylinder	個


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