天瑞儀器EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。

　　EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
　　
　　該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
　　
　　另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。
　　
　　性能特點
　　
　　高效超薄窗X光管，指標達到*水平
　　
　　的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
　　
　　SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
　　
　　天瑞儀器產品—信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上
　　
　　低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好
　　
　　智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
　　
　　自動穩譜裝置保證了儀器工作的*性
　　
　　高信噪比的電子線路單元
　　
　　針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
　　
　　解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
　　
　　多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
　　
　　內置高清晰攝像頭
　　
　　液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然
　　
　　技術參數
　　
　　產品型號：EDX 4500H
　　
　　產品名稱：X熒光光譜儀
　　
　　測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
　　
　　元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
　　
　　同時分析元素：一次性可測幾十種元素
　　
　　測量時間：30秒-200秒
　　
　　探測器能量分辨率為：145±5eV
　　
　　管壓：5KV-50KV
　　
　　管流：50μA-1000μA
　　
　　測量對象狀態：粉末、固體、液體
　　
　　輸入電壓：AC 110V/220V
　　
　　環境溫度：15℃-30℃
　　
　　環境濕度：35%-70%
　　
　　樣品腔體積：320mm×100mm
　　
　　外形尺寸：660mm×510mm×350mm
　　
　　重量：65Kg
　　
　　標準配置
　　
　　高效超薄窗X光管
　　
　　SDD硅漂移探測器
　　
　　數字多道技術
　　
　　信噪比增強器 SNE
　　
　　光路增強系統
　　
　　高信噪比電子線路單元
　　
　　內置高清晰攝像頭
　　
　　自動切換型準直器和濾光片
　　
　　自動穩譜裝置
　　
　　三重安全保護模式
　　
　　可靠的整體鋼架結構
　　
　　90mm×70mm的狀態顯示液晶屏
　　
　　真空泵
　　
　　應用領域
　　
　　合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）