測量濃度范圍

ppm—99.99%  (不同元素，分析范圍不同)

測量對象狀態(tài)

粉末、固體、液體

元素分析能力

一次性可測從鈉(Na)到鈾(U)之間幾十種元素

*分辨率

129eV±5eV

**分析精度

RSD≤0. 1%  (國標(biāo)標(biāo)樣)

分析時間

單次測試時間可調(diào)

制冷方式

電制冷，無需任何耗材

大樣品腔尺寸

400mm x 340mm x 80mm

抽真空樣品腔尺寸

φ100mm×h75mm

外觀尺寸

700mmx510 mmx336mm

工作電源

AC 220V ±5V 、50Hz

工作環(huán)境

室內(nèi)溫度 15~30℃；相對濕度 ≤80%    (不結(jié)露)

整機(jī)重量

56KG

功能優(yōu)勢

1.    外形設(shè)計(jì)：大方美觀、堅(jiān)固耐用、多重安全防護(hù)模式。

2.    準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)：準(zhǔn)直器+多組合濾光片，軟體自動切換， 滿足各種測試應(yīng)用。

3.    采用自主研發(fā)的SES 信號處理系統(tǒng) (數(shù)字多道) ，有效提 高峰背比，讓測量更精準(zhǔn)。

4.    多維散熱系統(tǒng)：優(yōu)化一體化散熱設(shè)計(jì)，使整機(jī)散熱性能得 到更大提高，確保 X 射線源的運(yùn)行安全

5.    輻射安全系統(tǒng)：多重防輻射泄露設(shè)計(jì)，輻射防護(hù)級別屬于 同類產(chǎn)品好級

6.    真空系統(tǒng)：選擇抽真空系統(tǒng)，優(yōu)化測試環(huán)境，提高鎂鋁硅 磷硫等輕元素的分析精度，大大擴(kuò)展分析儀的分 析能力。

硬件優(yōu)勢

8.    核心部件整套進(jìn)口

9.    探測器：原裝美國 Amptek 硅漂移 SDD 探頭，分辨率低 至 129eV±5eV ，能量線性和能量分辨率好，高峰背比。

10.  X 射線 管 ： *大 功率 50W 、 管 電壓 5-50KV   、 管 電流 0- 1000uA；長壽命 X 射線管。

11.  高壓電源：*大功率 50 W、電壓 0 -50 KV、電流 0- 1000uA。

8 小時穩(wěn)定性≤0.05%。

12.  信號處理器：采用進(jìn)口信號處理器，適應(yīng)高分辨率和高計(jì) 數(shù)率， 自調(diào)放大倍數(shù)，*大道數(shù)：  4096。

軟件優(yōu)勢

美國丹納赫和我司共同研發(fā)的 X 熒光分析軟件中文版，該軟 件融合經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論α系數(shù)法、線性擬合、二次曲線、強(qiáng) 度校正、含量校正等多種分析方法，全面保證測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確 性。

系統(tǒng)選配

1.    光譜專用研磨機(jī) (選配)

2.    光譜專用熔樣機(jī) (選配)

3.    光譜專用制粉機(jī) (選配)

4.    熔樣鉑金坩堝 (選配)

5.    光譜儀專用壓片機(jī) (選配)