OES光電直讀光譜檢測儀器
OES全譜真空型直讀光譜儀器優勢：
1、CCD/CMOS全譜光譜儀制造技術；
2、國內生產真空CCD/CMOS全譜技術光譜儀的制造商；
3、基體范圍內通道改變、增加不需費用
4、升級多基體方便，無須變動增加硬件 ；
5、優良的數據穩定性，同一樣品不同的時間段分析，可獲得良好的數據一致性 ；
6、體積小、重量輕， 移動安裝方便 ；
7、高集成度、高可靠性、等

OES光電直讀光譜檢測儀器

我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等。

檢測鋼鐵元素成分含量（含各種鋼鐵合金，不銹鋼等），精度更高穩定性更好的是實驗室使用的專業測試鋼材成分設備的OES光電直讀光譜儀，介紹如下：

OES直讀光譜儀介紹：

OES全譜真空型直讀光譜分析主要特點：

1、可測定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鉻基，鈦基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基。全譜技術覆蓋了全元素分析范圍，可根據客戶需要選擇通道元素；

2、分析速度快捷，20秒內測完所有通道的元素成分。針對不同的分析材料，通過設置預燃時間及標線，使儀器用短的時間達到優的分析效果；

3、光學系統采用真空恒溫光室， 激發時產生的弧焰由透鏡直接導入真空光室，實現光路直通,消除了光路損耗，提高檢出限，測定結果準確，重現性及長期穩定性好；

4、特殊的光室結構設計，使真空室容積更小；

5、自動光路校準，光學系統自動進行譜線掃描，確保接收的正確性，免除繁瑣的波峰掃描工作。儀器自動識別特定譜線，與原存儲線進行對比，確定漂移位置，找出分析線當前的像素位置進行測定；

6、開放式的電極架設計，可以調整的樣品夾，便于各種形狀和尺寸的樣品分析；

7、工作曲線采用國際標樣，預做工作曲線，可根據需要延伸及擴展范圍，每條曲線由多達幾十塊標樣激發生成，自動扣除干擾；

8、HEPS數字化固態光源，適應各種不同材料 ；

9、固態吸附阱，防止油氣對光室的污染，提高長期運行穩定性；

OES光電直讀光譜檢測儀器