X-RAY 5000測厚儀采用模塊化設計，可輕松集成到生產線中。例如，當必須測量大尺寸底材（如錫板）上的鍍層時，X-RAY 5000 堪稱理想解決方案。根據底材和鍍層材料的不同，客戶可按需求選配X射線源、探測器以及基本濾片。

應用：

涂層厚度測量

1、測量太陽能行業中 CIGS、CIS、CdTe 以及 CdS鍍層的厚度

2、金屬帶材、金屬箔以及塑料箔上厚度僅為幾微米的鍍層

材料分析

1、測量光伏行業中CIGS、CIS、CdTe 以及 CdS鍍層的成分

2、連續生產過程中的金屬鍍層

3、濺射鍍和電鍍生產中的過程監控

特性：

• 與生產系統連接后，可在運行的生產過程中持續測量
• 適用廣泛：可用于真空或大氣環境，樣品表面溫度高可達 400°C
• 特別堅固的設計和結構，在惡劣條件下也可持續獲得準確的測量結果
• 非常適用于對具有大尺寸表面的產品進行鍍層厚度測量與材料分析