核心參數產地類別進口雜散光動態范圍85，000（典型）信噪比1000:1靈敏度0.14-7.7nm分辨率2.5 nm (FWHM)光譜范圍350-1100nm光譜范圍可見按探測器CCD
產地類別進口
雜散光<0.08% at="" 600="" nm;0.4%="" at="" 435="">
動態范圍85，000（典型）
信噪比1000:1
靈敏度0.14-7.7nm
分辨率2.5 nm (FWHM)
光譜范圍350-1100nm
光譜范圍可見
按探測器CCD
產品介紹
SpectrumTEQ-EL系列電致發光量子效率測量系統，可以針對發光器件的光電特性進行有效測量，系統搭配的QEpro光譜儀具有信噪比、低雜散光等特性，可確保測量結果得準確性；同時，系統配有強大的測試軟件，對話框式的軟件操作界面讓測量過程變得更為簡單。
測量參數
量子效率
亮度
量子效率隨電流密度的曲線
色坐標
輻射通量，光通量
峰值波長
應用領域
無機電致發光
有機電致發光
分子薄膜EL器件
產品優勢
體積小巧：便于靈活使用及運輸。
原位測量：可放至手套箱內，實現原位測量
流程化操作：設備無需頻繁校準。
產品參數
| 系統配置 | |||||
| 配置方案 | 方案1 | 方案2 | |||
| 光譜儀 | 型號 | QEPro / QE65Pro（可選） | |||
| 光譜范圍(nm) | 350-1100 | ||||
| 信噪比 | 1000:01:00 | ||||
| 分辨率 | 2.5 nm (FWHM) | ||||
| 動態范圍 | 85000:1（QEPro單次采集）；25000:1（QE65Pro單次采集） | ||||
| AD位數 | 18-bit（QEPro）；16-bit（QE65Pro） | ||||
| 積分球 | 尺寸 | 3.3” | 1.5” | ||
| 材質 | Spectralon | ||||
| 源表 | Keithley2400 | ||||
| 光纖 | 芯徑 | 1000um（可更換其他芯徑） | |||
| 校準燈 | 角度 | 2 Pi | 型號 | HL-3-INT-CAL | |
| 亮度 | 50 流明 | 功率 | 5W（電功率） | ||
| 無線遙控 | 通道數 | 4 | 無遙控 | ||
| 軟件 | SpectrumTEQ-EL專用軟件 | ||||
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