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紋影儀
加拿大ResonanceGCSO2
Cryolab低溫塞貝克效
光波導模式光譜儀OWLS
英國HI-TECHStoppedfl
沃泊指數分析儀
LAwave 是基于鐳射聲波原理測量涂層以及表面的一種精密測量儀器 應用領域: 硬模、半導體材料、薄型聚合物膜、傳感器膜、等離子噴膜 測量數據： 測量以下材料的彈性模量 硬質和超硬模、金屬膜、薄型聚合物膜、低K溶膠膜 大批量材料的彈性模量 膜厚 半導體材料的損傷程度 特點：無損傷檢測 超硬超薄都能檢測 檢測整個面，并非某個點 可測膜范圍廣：從納米到毫米 快速可靠 樣品無需特殊處理 無需校正 作用： 薄膜沉積、涂層噴涂及成品材料表面的過程控制 薄膜和涂層機械參數的精確測量 膜材料上微結構的無損評估（如鍵合情況、多孔性和組成） 測探垂直于表面的彈性和密度梯度
LAwave 是基于鐳射聲波原理測量涂層以及表面的一種精密測量儀器
應用領域:
硬模、半導體材料、薄型聚合物膜、傳感器膜、等離子噴膜
測量數據：
測量以下材料的彈性模量
硬質和超硬模、金屬膜、薄型聚合物膜、低K溶膠膜
大批量材料的彈性模量
膜厚
半導體材料的損傷程度
特點：無損傷檢測
超硬超薄都能檢測
檢測整個面，并非某個點
可測膜范圍廣：從納米到毫米
快速可靠
樣品無需特殊處理
無需校正
作用：
薄膜沉積、涂層噴涂及成品材料表面的過程控制
薄膜和涂層機械參數的精確測量
膜材料上微結構的無損評估（如鍵合情況、多孔性和組成）
測探垂直于表面的彈性和密度梯度
生物質顆粒燃燒熱值儀
Corning康寧Costar125
雷磁PHS-3E實驗用臺式
德國sartorius賽多利
雷磁PHS-3C實驗室臺式
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