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　　近些年來，納米顆粒材料被越來越廣泛的應用于衣食住行等各領域 內，由此帶來的潛在的納米顆粒污染問題，逐漸引起了人們的重 視。單顆粒電感耦合等離子體質譜(spICP-MS)技術是近年來發 展起來的可用于進行納米顆粒表征的方法。使用此方法，可實現一 次進樣同時完成顆粒粒徑、數量濃度、元素含量及粒徑分布的分 析。 隨著技術的不斷發展，spICP-MS技術，包括硬件以及軟件都得到 了不斷的完善。但目前使用常規單四級桿spICP-MS對樣品中的納 米顆粒進行檢測時，仍面臨許多的挑戰。其中，主要的問題包 括：1. 在樣品檢測過程中，由于進樣系統的設計，使得樣品的傳輸 效率較低，通常情況下為總進樣量的1%-3%，因此會導致樣品消 耗量大，同時在納米顆粒檢測時需要延長采集時間才能夠獲得足夠 的信號數量來進行數據統計，從而造成樣品浪費及檢測效率低的問 題。2. 使用傳統單四級桿spICP-MS檢測質譜干擾較強元素的納米 顆粒時，由于干擾的原因，會出現納米顆粒信號無法與背景信號區 分的情況。在實際檢測過程中，納米顆粒樣品量通常較小，因此， 在檢測過程中，應盡量減少樣品消耗。同時，用戶對于大量存在的 硅、鐵等天然或人工合成的納米顆粒的檢測需求較高，所以，為了 克服上述問題，高效進樣系統與三重四級桿spICP-MS的組合成為 必然的選擇。 TQ ICP-MS是真正意義上的三重四級桿ICP-MS，采用雙四級桿質 量選擇器(Q1和Q3)以及四級桿碰撞反應池(Q2)的設計，可以 完美實現上述提到的如硅元素等具有挑戰性的元素的準確分析定 量。而全新設計的單顆粒分析高效進樣系統，則可以在實現微 流(10微升/分鐘)進樣的同時，完成液體樣品的100%進樣，節約 樣品。本研究對此方法進行了初步的摸索。