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表征固液介面穩(wěn)定性的新方法

閱讀:710      發(fā)布時(shí)間:2016-8-28
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方案優(yōu)勢(shì):它還可以測(cè)量固體表面或薄膜的zeta 電位。 各種濃度的納米顆粒和分子可以通過結(jié)合精密的光學(xué)系統(tǒng)、高靈敏度和快速響應(yīng)的光檢測(cè)器和透明電極技術(shù)來進(jìn)行表征。圖4 顯示出使用透明電極技術(shù)通過Delta™ Nano 儀器來測(cè)量一個(gè)262 納米聚苯乙烯膠乳樣品的zeta 電位。對(duì)于此樣品,當(dāng)濃度高于0.01%時(shí),很強(qiáng)的多次散射和混濁便開始出現(xiàn)。入射光不能在濃度為0.1%的情況下透射5 毫米光程長度的樣品槽。因此,一旦懸浮液濃度高于0.01%,則不能應(yīng)用傳統(tǒng)的ELS。 然而,使用透明電極技術(shù)可以獲得zui大1%的各種濃度的一致而正確的zeta 電位值。對(duì)于更小的顆粒,使用此技術(shù)可以測(cè)量甚至更高濃度懸浮液的 zeta 電位。

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