首頁 >> 公司動(dòng)態(tài) >> 微區(qū)X射線熒光分析儀Atlas應(yīng)用技術(shù)研討會(huì)圓滿結(jié)束
2017年5月18日上午,在我司北京總部成功舉辦了天美-IXRF公司微區(qū)X射線熒光分析儀Atlas應(yīng)用技術(shù)研討會(huì)。本次參會(huì)單位有幸邀請到了地質(zhì)、刑偵、文博、鋼鐵、航天方面的專家學(xué)者及高校教授。
會(huì)議由我司北京辦事處總王秀欣主持,我司副總裁趙薇女士為研討會(huì)致辭。之后,由我司市場部電鏡產(chǎn)品武素芳女士就日立電鏡的產(chǎn)品做了介紹。
緊接著,IXRF產(chǎn)品技術(shù)專家Kenny Witherspoon做了題為“微區(qū)X射線熒光分析儀Atlas介紹及應(yīng)用“的報(bào)告,并在報(bào)告后進(jìn)行了現(xiàn)場演示,為各位專家展示了Atlas極低的檢測限,元素含量可以檢測到PPM量級和強(qiáng)大的Mapping功能。參加此次研討會(huì)的老師針對技術(shù)和應(yīng)用問題進(jìn)行了認(rèn)真而熱烈的討論。
會(huì)議結(jié)束后,北京市電鏡界的前輩專家張德添教授做了會(huì)議總結(jié),給予Atlas*的評價(jià),并希望此類型會(huì)議能繼續(xù)開展下去,為更多科研工作者提供更多的交流機(jī)會(huì)。
我們在此感謝各位專家的積極參與和熱情支持,今后我們將再接再厲,繼續(xù)為廣大用戶提供的服務(wù)!
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