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　　2016年11月17日，第七屆中國FIB技術及學術交流研討會在重慶開幕，本次大會持續到11月19日，會議由中國電子顯微鏡學會FIB專業委員會主辦，由重慶大學承辦，來自國內本領域的專家、學者及FIB相關設備廠商等100多人參加了此次會議。

　　
　　會議現場

　　
　　11月18日大會報告中，天美&日立高新分享了FIB產品“高精度樣品制備，高精度3D分析”的精彩報告，來自日立高新的張希文工程師介紹了日立公司通過其的FIB技術，配以的“三束”結構來減少對樣品的損傷程度，從而得到更高精度的TEM樣品，再輔以日立自動化樣品制備程序，使得樣品制備更簡單更。

　　
　　天美&日立高新介紹FIB產品線

　　
　　同時張希文工程師還介紹了日立的FIB產品線單束MI4050加工效率高、NX2000雙束實時觀察低損傷、NX9000真正的L型設計三束三維重構等特點，并介紹了日立一代200kV球差透射HF5000三位一體，超級分析能力，自動一鍵球差校正等特點。日立的精彩報告吸引了很多老師到天美公司展臺進行咨詢和問題討論。

　　
　　天美&日立高新介紹FIB三束低損傷加工

　　
　　本次會議圓滿結束，天美公司希望能通過與全國FIB技術工作者、專家用戶以及同行之間的交流，更加致力于FIB應用的發展，促進我國FIB在微納加工領域的發展。